Перейти к основному контенту Перейти к главному меню навигации Перейти к нижнему колонтитулу сайта
##common.pageHeaderLogo.altText##
Известия ЮФУ
Технические науки
  • Текущий выпуск
  • Предыдущие выпуски
    • Архив
    • Выпуски 1995 – 2019
  • Редакционный совет
  • О журнале
    • Официально
    • Основные задачи
    • Основные рубрики
    • Специальности ВАК РФ
    • Главный редактор
English
ISSN 1999-9429 print
ISSN 2311-3103 online
  • Вход
  1. Главная /
  2. Найти

Найти

Расширенные фильтры
Опубликовано после
Опубликовано до

Результаты поиска

Найден один результат.
  • МЕТОДЫ ЛОГИЧЕСКОГО РЕСИНТЕЗА ДЛЯ ТОПОЛОГИЧЕСКОГО ПРОЕКТИРОВАНИЯ МИКРОЭЛЕКТРОННЫХ СХЕМ

    Н. О. Васильев , П. И. Фролова , Г. А. Иванова , А. Н. Щелоков
    2020-11-22
    Аннотация ▼

    С уменьшением технологических норм возрастает число правил проектирования.
    Для сокращения временных затрат на проверку правил проектирования для технологий 22
    нм и ниже переходят к использованию регулярных структур в нижних слоях топологии.
    При проектировании схем на основе регулярного шаблона становится возможным совме-
    щение логического и топологического этапов проектирования. Данная задача также ак-
    туальна для проектирования схем на ПЛИС. В данной работе рассматривается метод
    структурной оптимизации логических схем на этапе топологического проектирования.
    Метод адаптирован для применения в маршруте проектирования схем с регулярными
    структурами в нижних слоях топологии, а также для ресинтеза технологических ото-
    бражений на ПЛИС. Для схем с применением регулярных структур предлагается метод
    логического синтеза в базисе элементов, для которых построены компактные топологиче-
    ские шаблоны. Это позволяет упростить этап топологического проектирования, а также
    ведет к дополнительному снижению площади проектируемого устройства. Оптимизация
    логических схем для ПЛИС проводится при помощи алгоритма моделирования отжига,
    производящего логические операции над специальной графовой моделью, учитывающей
    особенности ПЛИС. Учет особенностей различных технологий в предлагаемом методе
    позволяет добиться хороших результатов по необходимым параметрам, в частности по
    занимаемой проектируемой схемой площади.

1 - 1 из 1 результатов

links

Для авторов
  • Подать статью
  • Требования к рукописи
  • Редакционная политика
  • Рецензирование
  • Этика научных публикаций
  • Политика открытого доступа
  • Сопроводительные документы
Язык
  • English
  • Русский

journal

* не является рекламой

index

Индексация журнала
* не является рекламой
Информация
  • Для читателей
  • Для авторов
  • Для библиотек
Адрес редакции: 347900, г. Таганрог, ул. Чехова, д. 22, А-211 Телефон: +7 (8634) 37-19-80 Электронная почта: iborodyanskiy@sfedu.ru
Публикация в журнале бесплатна
Больше информации об этой издательской системе, платформе и рабочем процессе от OJS/PKP.
logo Сайт разработан командой ЦИИР