Найти

Результаты поиска

• СХЕМОТЕХНИЧЕСКОЕ И ЭЛЕКТРОДИНАМИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ КОЛЕБАТЕЛЬНОГО ПРОЦЕССА ПЕРЕРАСПРЕДЕЛЕНИЯ ЭНЕРГИИ В БИПОЛЯРНОМ ТРАНЗИСТОРЕ

  К. А. Бойков

  2022-03-02

  Аннотация ▼

  Преимуществом перспективного метода пассивной радиосенсорной технической ди-
  агностики (ПР Д) над существующими на сегодняшний день способами определения тех-
  нического состояния (виброметрия, тепловой контроль, JTAG-тестирование, оптический
  контроль) являются: отсутствие инерции, отсутствие затрат процессорного времени,
  отсутствие гальванического контакта с объектом исследования. В современной научнойлитературе практически не уделяется внимания численным моделям электронных уст-
  ройств, в том числе на биполярных транзисторах (БП ), которые описывают процесс
  колебательного перераспределения энергии и излучения, используемого в ПР Д. Поэтому
  целью данного исследования является развитие метода ПР Д посредством разработки,
  анализа и сравнения схемотехнической и электродинамической моделей колебательного
  перераспределения энергии в БП . В работе представлены и проанализированы упрощен-
  ные схемотехническая и электродинамическая модели колебательного перераспределения
  энергии в БП . Рассчитаны параметры моделей, получены численные сигнальные радио-
  профили (СРП) электрической составляющей электромагнитных излучений, созданных
  самим радиоэлектронным узлом, построенном на БП . Показаны способы корректировки
  справочных параметров в зависимости от реальных условий включения БП . Установлено,
  что взаимная корреляционная функция СРП, полученных в результате схемотехнического и
  электродинамического моделирования, не ниже 0,93, что говорит о высоком сходстве
  представленных моделей. На практике использование разработанных моделей при анализе
  СРП, полученных путем регистрации собственных излучений радиотехнических узлов
  электронных устройств, позволит с достаточно высокой точностью определить режим
  функционирования БП и его быстродействие. Данный анализ может быть использован в
  ПР Д, указывая на неисправности сигнальных цепей, либо на деградацию параметров са-
  мого элемента на ранних стадиях.

• РЕАЛИЗАЦИЯ В БАЗИСЕ ПЛИС РЕЛЯТОРНЫХ КОНТРОЛИРУЮЩИХ ОПРОСНЫХ УСТРОЙСТВ ЦИФРОВЫХ СИГНАЛОВ

  С.А. Панычев , А.И. Панычев , А.В. Максимов

  270-280

  2025-07-31

  Аннотация ▼

  Сформулированы требования к современным средствам технического контроля и функ-
  циональной диагностики оборудования для ответственных применений, одним из которых яв-
  ляется обработка диагностической информации в темпе реального времени. Отмечено, что
  для работы с цифровыми диагностическими сигналами перспективными являются реляторные
  контролирующие опросные устройства, основанные на аппарате порядковой логики, дающей
  существенный временной выигрыш перед традиционной двоичной логикой. Аппаратная реали-
  зация порядково-логических опросных устройств в базисе ПЛИС наряду с очевидными преиму-
  ществами этапа разработки позволит осуществлять оперативную реконфигурацию внутрен-
  ней структуры для адаптации к изменяющимся условиям функционирования объекта контроля.
  Рассмотрена аппаратная реализация двух известных устройств. Устройство переменного
  приоритета использовано для выявления зафиксировавшего отказ или сбой датчика с возмож-
  ностью установки номера датчика, с которого начнется опрос, и направления обхода датчи-
  ков. Устройство централизованного контроля группы объектов применено для поиска экстре-
  мального (максимального или минимального) цифрового диагностического сигнала с одновре-
  менным определением номера соответствующего датчика за один такт работы системы
  контроля и диагностики. Разработка комбинационных схем данных контролирующих опросных
  устройств выполнена средствами ISE Design Suite 14.7. Представлены положительные резуль-
  таты тестирования алгоритмов работы созданных моделей, сведенные в таблицы состояний
  входов и выходов схем и иллюстрируемые временными диаграммами двоичных сигналов на вы-
  водах схем. Дана оценка требуемых затрат ресурсов ПЛИС, выраженная в количестве логиче-
  ских элементов и пользовательских контактов. Также на примере приборов низкой интеграции
  и наиболее ресурсоемких образцов даны верхняя и нижняя оценки количество ПЛИС различных
  типов семейств Xilinx Spartan-6, Xilinx Virtex-4 и отечественной серии 5576/5578 АО «КТЦ
  «Электроника». Установлено, что при количестве диагностических датчиков до 200 в зависи-
  мости от семейства ПЛИС для реализации одного контролирующего опросного устройства
  требуется до 17 микросхем низкой интеграции и до 7 ресурсоемких микросхем