Н.О. Васильев , М.А. Заплетина , Г. А. Иванова , А.Н. Щелоков
2020-11-22
Аннотация ▼
При функционировании микроэлектронных устройств в условиях космоса необходимо учитывать внешние воздействия. Работа устройства в подобных условиях затрудняется негативным влиянием радиационного излучения на электронные компоненты схемы. Воз- действие тяжелых заряженных частиц приводит к одиночным сбоям логических элемен- тов, из-за чего логика работы устройства может быть нарушена. В связи с этим при проектировании электронных схем, которые будут использоваться в космических аппара- тах, необходимо выполнение повышенных требований к устойчивости интегральных схем (ИС) к одиночным сбоям. По мере уменьшения технологических норм проектирования ИС проблема сбоеустойчивости становится актуальной и для изделий микроэлектроники гражданского применения. Решение данной задачи обычно осуществляется методами ап- паратной защиты, к которым относятся методы помехоустойчивого кодирования, мето- ды резервирования, а также методы логической защиты. В данной статье рассматрива- ются методы оценки устойчивости ИС к одиночным сбоям в логических элементах, а также основные методы защиты схем. В работе предлагается техника ресинтеза логиче- ских комбинационных схем, использующая логические ограничения, выводимые с помощью метода резолюций, для оценки устойчивости к одиночным сбоям. В ходе ресинтеза предла- гается использовать методы логической защиты уязвимых участков схемы, что не влечет ощутимого роста занимаемой устройством площади, свойственного методам резервиро- вания и помехоустойчивого кодирования.
