Найти
Результаты поиска
-
АНАЛИЗ ХАРАКТЕРИСТИК СФК НА ОСНОВЕ МЕТОДОВ ИЗБЫТОЧНОГО КОДИРОВАНИЯ
Д. В. Тельпухов , Т.Д. Жукова , А. Н. Щелоков2020-11-22Аннотация ▼Обычно сбои, возникающие в электронной аппаратуре под действием различных
дестабилизирующих факторов, таких как, например, высокая или низкая температура или
ионизирующее излучение, находились под пристальным вниманием разработчиков элемен-
тов памяти. Но последние исследования в данной области показывают, что с развитием
микроэлектронной промышленности число сбоев в комбинационных участках схемы рас-
тет и в скором времени их частота возникновения будет сопоставима с частотой в неза-
щищенных элементах памяти. На сегодняшний день для решения проблемы проектирова-
ния комбинационных схем повышенной сбоеустойчивости в условиях экстремального при-
менения особое внимание стали уделять методам синтеза схем функционального контроля
(СФК). Данные методы, позволяют за счет внесения дополнительной структурной избы-
точности, наделить схему способностью автоматически выполнять обнаружение и/или
исправление возникающих в ней ошибок. Однако, в результате применения различных ме-
тодов синтеза СФК в зависимости от исходных параметров и внутреннего строения за-
щищаемой схемы реализуются устройства, обладающие различной эффективностью и
характеристиками надежности. Поэтому возникает необходимость в определении и раз-
работке оценочных функций для выполнения анализа по нахождению наилучшего метода
построения схемы контроля для конкретного устройства без проведения предварительно-
го моделирования. Данная работа посвящена разработке спецификации оценочных функций
структурной избыточности и характеристик надежности на примере разработанных
методов синтеза схем функционального контроля на базе спектрального и низкоплотно-
стного кода. Был проведен сравнительный и корреляционный анализ аналитических данных
с экспериментальными значениями с целью оценки эффективности полученных в резуль-
тате исследования функций. Полученные в рамках данной статьи оценочные функции про-
демонстрировали высокую точность в вычислении характеристик СФК.








