Найти

Результаты поиска

• ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ФОЛЬГИРОВАННЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ С ПОМОЩЬЮ ПЕЧАТНЫХ СТРУКТУР

  М. М. Мигалин , В. А. Обуховец

  2025-01-14

  Аннотация ▼

  Рост требований пользователей к скорости обмена данными в телекоммуникационных сис-
  темах привел к активному освоению мм-диапазона длин и интенсивному развитию широкополос-
  ных систем связи. Проектирование устройств СВЧ мм-диапазона волн с помощью САПР требует
  точного описания частотной зависимости диэлектрической проницаемости используемой под-
  ложки для сокращения времени разработки устройства. Целью данной статьи является опреде-
  ление относительной диэлектрической проницаемости фольгированного диэлектрика Rogers
  3003G2 в мм-диапазоне длин волн. Для нахождения диэлектрической проницаемости был исполь-
  зован как нерезонансный, так и резонансный методы. Автоматизации процесса обработки дан-
  ных измерений была достигнута с помощью разработанного скрипта в пакете MATLAB. Приме-
  нив метод разности фаз, заключающийся в применении двух микрополосковых линий разной длины,
  была определена относительная диэлектрическая проницаемость фольгированного диэлектрика в
  полосе 1–42 ГГц. Для отказа от использования зондовой станции с хрупкими зондами для измере-
  ний S–параметров в мм-диапазоне длин были разработаны SIW–резонаторы с волноводным воз-
  буждением. Применив три прототипа многомодовых SIW–резонаторов, была найдена относи-
  тельная диэлектрическая проницаемость исследуемого диэлектрика в диапазоне 60–170 ГГц.
  Во избежание неоднозначности при определении номера продольной моды в SIW–резонаторах был
  разработан набор одномодовых SIW – резонаторов с различной величиной связи с возбуждающим
  волноводом. Варьируя длину возбуждающих щелей в SIW – резонаторах, были получены нагружен-
  ные резонансные частоты, по которым была определена ненагруженная резонансная частота,
  использованная для нахождения относительной диэлектрической проницаемости фольгированно-
  го диэлектрика. В заключении работы даны рекомендации по разработке SIW–резонаторов для
  определения свойств диэлектриков.